适用于高速率的谱应用
“无损失”或“零死时间”（ZDT）
用来计算高速率下计数损失的常用方法是延长采集时间。基本假设必须是样品在延长期内不会发生变化。但当遇到短半衰期或样品非静止（例如，流过管道）时，该假设并不成立。ORTEC已经完善了数字领域的无损计数技术。在该方法中，谱本身按脉冲逐个进行校正，ZDT方法还提供精确校正的谱和正确计算的统计不确定性。
“增加处理量”模式
高输入计数率下的精度可能受谱仪将数据存储到内存的速度限制。这就是所谓的“处理量限制”。脉冲堆积意味着超过某一点，存储到内存的数据速率随着输入计数率的进一步增加而降低，从而降低了结果质量。ORTEC通过开发一种新型数字峰值检测算法，消除了与脉冲峰值幅度确定过程相关的一些死区时间，从而将最大处理量提高了30％。
适用于运动中的样品
列表模式
对于样品相对于辐射探测器移动的情况，通常需要测量作为时间函数的活度曲线。此类应用的例子包括空中和陆上测量以及出入口监控。通常要求不出现与“采集 - 存储 - 清除 - 重启”循环相关联的“死区”。在列表操作模式中，数据按事件逐个直接流式传输到计算机。没有相关的“死区”。在DSPEC Pro中，每个事件的时间戳都精确到200纳秒。通过使用程序员工具包，可以将数据重新制作成谱，以便通过ORTEC的各种分析软件产品或用户开发的代码进行离线分析。
适用于恶劣环境和机械冷却器
低频噪声抑制器（LFR）
HPGe辐射探测器在存在机械振动环境中的性能并不十分理想。颤噪噪声通过向主信号添加低频周期性电噪声而降低了能量分辨率。电接地回路也是低频电噪声的来源。越来越多的HPGe探测器为消除对LN2的需求而使用机械冷却器，以及越来越多的HPGe探测器被带出实验室环境。
DSPEC Pro具有低频噪声抑制器（LFR）功能，可降低此类噪声源的影响。再结合高性能列表模式，DSPEC Pro是移动车辆测量系统的首选仪器。
用于提高大型或中子损伤探测器的分辨率
弹道亏损和电荷捕获校正
DSPEC Pro中的梯形数字滤波器与所有其他ORTEC DSPEC系列产品相同。它可调整滤波器以优化大型HPGe辐射探测器的分辨率性能，当存在弹道亏损时，这些探测器通常会出现低能拖尾现象。这些大型探测器越来越多地被用于低水平计数应用。
调整主要通过使用“优化”功能自动进行，还可通过InSIGHT数字示波器模式进行监控。
DSPEC Pro以电荷捕获校正器的形式提供更多功能，电荷捕获校正器可用于减轻中子损伤辐射探测器的峰值衰减。中子对晶格的损伤会产生“捕获”中心，该中心可“保留”由伽马射线相互作用产生的一些电荷。这将导致低侧拖尾类似于弹道亏损，尽管原因有所不同。电荷捕获校正器进行校准或“训练”，使得它可按事件逐个加回脉冲高度亏损。